|
|
Предназначена для исследования различных
типов твердых образцов, в том числе, оптических и полупроводниковых материалов,
драгоценных камней и других объектов произвольной формы
• Образец
располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол
падения центрального луча на образец – 15°
• Позволяет исследовать образцы
малых размеров (диаметр исследуемого участка - от 1 мм)
• Приставка
укомплектована набором сменных диафрагм-держателей для образцов разного размера
• При использовании мини-пресса позволяет исследовать образцы в виде тонкого
слоя, раскатанного по зеркальной пластине из легированной стали (излучение
дважды проходит сквозь слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности)
•
Не применяется: для исследования сыпучих и жидких веществ
|
