Предназначен для пробоподготовки при исследованиях образцов
с помощью ИК микроскопа и приставок зеркального отражения.
Позволяет придавать форму тонкого слоя (до нескольких
микрон) различным объектам: полимерным фрагментам, микрочастицам ЛКП,
порошкообразным веществам, волокнам и т.п.
Полученные тонкие слои на зеркальных пластинах из
легированной стали исследуются методом двойного пропускания – когда излучение,
прошедшее сквозь слой вещества, отражается от поверхности пластины и вновь
проходит сквозь вещество.
Зарегистрированные таким методом спектры полностью идентичны
спектрам пропускания, полученным, например, после прессования веществ с KBr.
Достоинствами в данном случае являются:
- быстрота пробоподготовки
- нет необходимости в использовании гидравлических и ручных
прессов и пресс-форм, ступок для
растирания и т.п.
- нет необходимости в использовании высокочистого KBr или
вазелинового масла
- образец не утрачивается и, при необходимости, может быть
исследован другими методами
- при использовании ИК микроскопа можно “просканировать”
полученный тонкий слой для выбора наиболее информативного участка, а также,
если слой неоднородный по составу, получить спектральные характеристики его
составляющих.
|