Универсальная оптическая приставка НПВО и ЗДО с элементом из селенида цинка и встроенной системой визуализации на внешнем мониторе

     Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых и жидких образцов, в том числе полимерных частиц, пленок и волокон, порошкообразных веществ, фрагментов лакокрасочных покрытий, горюче-смазочных материалов. Наличие оптической системы визуального контроля исследуемой поверхности с увеличением 75^Х обеспечивает высокую эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Универсальный прижим оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180^о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой.

     Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) используется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45°. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, кристаллов, тонких пленок на поверхности, а также при регистрации спектров поглощения крупных цельных объектов.

• Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала    не менее 30
• Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров                            25
• Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек                   30
• Глубина проникновения излучения в образец, мкм                                         5 – 15
• Минимальная площадь твердого образца, мм                                               0.2 × 0.2
• Минимальный объем исследуемой жидкости, мкл                                                   1
• Минимальные размеры образца волокна:  диаметр сечения/длина, мм           0.1/1
• Материал кристалла-подложки                                                            ZnSe CVD, Ge
• Диаметр пятна фокусировки, мм                                                                                1
• Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО             45^о
• Увеличение микрообъектива /общее увеличение визуального канала        4Х/75Х
• Поле зрения оптической системы, мм                                                              2 Х 2,5
• Разрешение цифровой видеокамеры                                                           640 Х 480
• Габаритные размеры, мм                                                                         150×150×260
• Масса, кг                                                                                                                   2,15

• Позволяет исследовать объекты малых размеров (от 200 мкм - в зависимости от геометрии, качества поверхности и физико-химических свойств материала)
• Приставка позволяет работать без пробоподготовки, имеет фиксируемую регулировку давления на образец с помощью прижима, снабженного цветовыми индикаторами
• Благодаря съемному фланцу с элементом НПВО обеспечивается быстрая и удобная смена образцов и очистка поверхности кристалла
• При заданном оптимальном усилии контакта метод обеспечивает высокое качество и повторяемость результатов благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения
• Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами

Элемент  НПВО

Исследуемый участок волокна

Фланец ЗДО